IEEE1149.1バウンダリ・スキャン・システムによれば、全ての複雑なシステムは1つ以上のバウンダリ-スキャン準拠のスキャン・ポートを持てます。もし、個々のスキャン・ポートが互いにつながっていたら、スキャン能力向上の可能性が確実に増えます。本設計では、マルチプル・スキャン・ポートを IEEE1149.1ポートに命令の書き込みをして、互いに連結します。MSP(Multiple Scan Port)デバイスは、4つのローカル・スキャン・ポートを連結するか、完全に迂回しての利用ができます。ENABLE信号が供給され、Lowの時、デバイス出力はトライステートとなり、ラティスのispDOWNLOAD®ケーブルを直接、イン-システム・プログラミング用途にセカンダリーチェインで使用出来ます。
| 日付 | 性能 | I/Oピン数 | テストデバイス | パッケージ | 設計サイズ | Ver | JEDECファイル |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Apr-03 | 35 MHz | 26 | ispMACH 4064V/B/C | 44 TQFP | 64 マクロセル | 1 | LSC_BSCAN-2T44M4064 |
| Apr-03 | 35 MHz | 26 | ispMACH 4064V/B/C | 48 TQFP | 64 マクロセル | 1 | LSC_BSCAN-2T48M4064 |
| Apr-03 | 35 MHz | 26 | ispLSI 2064VE | 44 TQFP | 64 マクロセル | 2 | LSC_BSCAN-2LT44-V2 |
注意: 上記の性能と設計サイズは概算見積もりです。実際の結果は選択したパラメータ、タイミング制約やデバイス実装によって変わります。詳細は設計のドキュメントをご覧下さい。全てのコーディングと設計は、特に注意書きがない限りPCプラットフォーム上で行いました。